@mastersthesis{oai:kagawa-u.repo.nii.ac.jp:00000184,
 author = {Ando, Shinichiro and 安藤, 慎一郎},
 month = {2020-10-21},
 school = {香川大学, Kagawa University},
 title = {バイアス温度ストレスによる酸窒化SiO2/Si界面欠陥の電荷捕獲挙動},
 year = {},
 yomi = {アンドウ, シンイチロウ}
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